数据存储装置测试仪
2020-01-11

数据存储装置测试仪

本发明涉及数据存储装置测试仪。公开一种用于测试数据存储装置(DSD)的DSD测试仪。DSD测试仪包括可操作用于从所述DSD接收DSD日志的控制电路,其中DSD日志包括识别至少一个错误状况的至少一个条目。与所述错误状况关联的命令序列被执行以确定DSD是否有缺陷。

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当DSD在生产线测试台上发生故障时,不将其立即返回到DSD制造商或者作为缺陷物丢弃,而是在DSD测试仪26上测试DSD。如果DSD通过DSD测试,则其可以重插入到生产线中(例如在生产线的起点)。如果DSD没有通过DSD测试,则其可以被丢弃或者返回到制造商进行修理。在任何情况下,可以将故障数据和关联的生产线数据聚集,并且接着进行评估以识别和纠正与生产线或DSD的制造工艺关联的问题。例如,可能需要更换特定生产线的测试台处的有缺陷的装配工具或者电源以解决该问题。在另一示例中,可以修改制造DSD的部件(例如存储介质、读取头、半导体存储器等)的工艺以解决该问题。在一个实施例中,DSD测试仪26产生的故障数据以及生产线数据之间的相关性帮助找到和解决否则在延长的时间段中不能检测出的错误。

图15示出本发明的实施例,其中DSD包括磁盘驱动器;以及

图16示出本发明的实施例,其中DSD包括固态驱动器。

图1A示出磁盘驱动器形式的现有技术DSD,其包括在磁盘上方致动的磁头以及控制电路;

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在执行命令序列之前,DSD测试仪读取命令序列中被写入的数据扇区(步骤110),使得当写入命令被重执行时,相同的数据能够被写入到数据扇区(由此保持先前写入的数据)。DSD测试仪接着执行命令序列(步骤112)以尝试重生DSD检测的读取错误。如果读取错误重新出现(步骤114),则错误被DSD测试仪保存(步骤116),否则DSD测试仪保存没错误的状态(步骤118)。在针对DSD错误日志中的全部边缘数据扇区重复此过程(步骤120)之后,测试结果被评估以确定DSD是测试通过还是失败(步骤122)。例如,如果重生预定百分比的读取错误,或者如果预定数量的重生错误超过阈值,则DSD可以指定为测试失败。

图12是根据本发明的实施例的流程图,其在图9的流程图上延伸,其中DSD测试仪从DSD读取与边缘数据扇区关联的重试日志(步骤144)。也就是说,当DSD检测到边缘数据扇区时,其可能已经执行重试程序以尝试恢复该数据扇区。在一个实施例中,如果不能使用重试程序恢复边缘数据扇区,则在DSD错误日志中创建条目。DSD测试仪接着重执行相同的重试程序(步骤146)作为DSD测试的一部分。如果错误不重新发生(即,如果数据扇区是可恢复的)(步骤148),则没有错误的状态被保存(步骤150)。如果错误重发生(步骤148),则DSD测试仪可以调整重试程序,例如,通过延长重试程序的具体步骤期间迭代的次数,或者通过调节重试程序期间执行的步骤的顺序。重试程序可以被多次调节,其中边缘数据扇区可以被最终恢复,或者认为不可恢复(步骤154)并且对应的错误被保存(步骤156)。在一个实施例中,可以使用在步骤152调节的重试程序来修改正在测试的DSD的重试程序和/或调节全部制造的DSD的重试程序(即,重优化的重试程序可以发送到DSD制造商,在此其用于修改DSD的制造工艺)。

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在一个实施例中,USB钥匙15882插入到消费装置159的通用串行总线端口中。然而USB钥匙158B2可以实施任何适当的通信协议并且因此可以插入到消费装置的任何适当端口(例如火线(Firewire)端口、小型计算机系统接口(SCSI)端口、集成设备电路(IDE)端口等)。因此,术语“USB钥匙”应理解为用于使用任何类型的适当接口协议(例如Firewire,SCS1、IDE、蓝牙等)识别任何适当的存储装置(例如硬盘驱动器、固态驱动器)的总体标识符。

图11是根据本发明的实施例的流程图,其中在DSD测试期间当执行命令序列时DSD的通道参数被边缘化;

当DSD在生产线测试台上发生故障时,不将其立即返回到DSD制造商或者作为缺陷物丢弃,而是在DSD测试仪26上测试DSD。如果DSD通过DSD测试,则其可以重插入到生产线中(例如在生产线的起点)。如果DSD没有通过DSD测试,则其可以被丢弃或者返回到制造商进行修理。在任何情况下,可以将故障数据和关联的生产线数据聚集,并且接着进行评估以识别和纠正与生产线或DSD的制造工艺关联的问题。例如,可能需要更换特定生产线的测试台处的有缺陷的装配工具或者电源以解决该问题。在另一示例中,可以修改制造DSD的部件(例如存储介质、读取头、半导体存储器等)的工艺以解决该问题。在一个实施例中,DSD测试仪26产生的故障数据以及生产线数据之间的相关性帮助找到和解决否则在延长的时间段中不能检测出的错误。

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